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    产品品牌全光谱椭圆偏振测厚仪SE950

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    更新日期2020-04-18 09:39

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    品牌:

    全光谱椭圆偏振测厚仪SE950

    所在地:

    上海

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    长期有效
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    全光谱椭圆偏振测厚仪SE950


    全光谱椭圆偏振测厚仪SE950 核心参数

    波长范围: 220~950nm 测量准确度: Tan(psi)≤0.01,cos(delta)≤0.01标准片 at 633nm)
    重复性: 膜厚重复性<(1 sigma,5 times) 0.2nm基于110nm标准片

    详细介绍

    全光谱椭圆偏振测厚仪  

    全光谱椭圆偏振测厚仪仪,为R&D和QC提供各种功能材料的光学常数测量及光谱特性数据分析,速度快,精度高 


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